Platforma za analizu više uzoraka

Makro, mikro i nano merenja mogu se izvoditi na istoj platformi.

Jednostavnost korišćenja

Potpuno automatizovan rad, započnite merenje za nekoliko minuta, a ne sati!

Prava konfokalnost

Visoka prostorna rezolucija, automatizovane mape, potpune opcije vizualizacije mikroskopa.

Visoka efikasnost prikupljanja

Detekcija Raman odozgo i pod uglom za optimalnu rezoluciju i propusnost u obe

kolokalizovane i Tip-Požarene merenja (Raman i Fotoluminiscencija).

Visoka spektralna rezolucija

Ultimativna performansa spektralne rezolucije, više rešetki sa automatskim prebacivanjem, širok spektar analize za Raman i PL.

Visoka prostorna rezolucija

Nanoskopska spektroskopska rezolucija (do 10 nm) kroz Tip-Požarene

Optičke Spektroskopije (Raman i FotoLuminiscencija).

Višetehnička / Višeokolišna

Brojni SPM režimi uključujući AFM, provodne i električne režime (cAFM,

KPFM), STM, tečnu ćeliju i elektrohemijsko okruženje, zajedno sa hemijskim mapiranjem

putem TERS/TEPL. Potpuna kontrola nad 2 instrumenta putem jedne radne stanice i moćne softverske kontrole, SPM i spektrometar mogu se koristiti istovremeno ili nezavisno

Robusnost/Stabilnost

AFM skeneri visoke rezonantne frekvencije, rad daleko od buke! Visoke

performanse se postižu bez aktivne izolacije vibracija.

SmartSPM skener i baza

Opseg skeniranja uzorka: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

Tip skeniranja po uzorku: XY nelinearnost 0,05 %; Z nelinearnost 0,05 %

Šum: 0,1 nm RMS u XY dimenziji u opsegu od 200 Hz sa uključenim kapacitivnim senzorima; 0,02 nm RMS u XY dimenziji u opsegu od 100 Hz sa isključenim kapacitivnim senzorima; < 0,04 nm RMS Z kapacitivni senzor u opsegu od 1000 Hz

Frekvencija rezonancije: XY: 7 kHz (bez opterećenja); Z: 15 kHz (bez opterećenja)

Kretanje u X, Y, Z pravcima: Digitalna kontrola zatvorene petlje za X, Y, Z ose; Motorizovani Z pristupni opseg 18 mm

Veličina uzorka: Maksimalno 40 x 50 mm, debljina 15 mm

Pozicioniranje uzorka: Motorizovani opseg pozicioniranja uzorka 5 x 5 mm

Rezolucija pozicioniranja: 1 µm

AFM glava

Talasna dužina lasera: 1300 nm, ne ometa spektroskopski detektor

Poravnanje: Potpuno automatsko poravnanje kantilevera i fotodioda

Pristup sondi: Slobodan pristup sondi za dodatne spoljne manipulatore i sonde

SPM režimi merenja

Kontaktni AFM u vazduhu/(opciono u tečnosti); Polukontaktni AFM u vazduhu/(opciono u tečnosti); Nekontaktni AFM; Faza slikanja; Mikroskopija lateralne sile (LFM); Modulacija sile; Provodljivi AFM (opciono); Mikroskopija magnetne sile (MFM); Kelvinova sonda (Mikroskopija površinskog potencijala, SKM, KPFM); Kapacitivna i električna mikroskopija sile (EFM); Merenje krive sile; Mikroskopija piezo odgovora sile (PFM); Nanolitografija; Nanomanipulacija; STM (opciono); Mapiranje fotostrume (opciono); Merenja volt-amper karakteristika (opciono)

Spektroskopski režimi

Konfokalna Raman, fluorescencija i fotoluminiscencija slikanje i spektroskopija

Raman spektroskopija pojačana vrhom (TERS) u AFM, STM i režimima sile smicanja

Fotoluminiscencija pojačana vrhom (TEPL)

Mikroskopija i spektroskopija skeniranja bliskog polja (NSOM/SNOM)

Jedinica za provodljivi AFM (opciono)

Opseg struje: 100 fA ÷ 10 µA; 3 opsega struje (1 nA, 100 nA i 10 µA) preklopiva iz softvera

Optički pristup

Sposobnost istovremene upotrebe apohromatskog objektiva sa gornje i bočne strane: Do 100x, NA = 0,7 sa gornje ili bočne strane; Do 20x i 100x istovremeno

Piezo skener objektiva zatvorene petlje za ultra stabilno dugotrajno poravnanje spektroskopskog lasera: Opseg 20 µm x 20 µm x 15 µm; Rezolucija: 1 nm

Spektrometar

Potpuno automatizovani XploRA Plus kompaktni mikro-spektrometri, funkcionalni kao samostalni mikro-Raman mikroskop

Opseg talasnih dužina: 60 cm^-1 do 4000 cm^-1

Rešetke: 4 rešetke na računarski kontrolisanoj kupoli (600, 1200, 1800 i 2400 g/mm)

Automatizacija: Potpuno motorizovani, softverski kontrolisan rad

Detekcija

Kompletan opseg CCD detektora i EMCCD-ova.

Laserski izvori

Tipična talasna dužina: 532 nm, 638 nm, 785 nm.

Automatizacija: Potpuno motorizovani, softverski kontrolisan rad

Softver

Integrisani softverski paket koji uključuje kompletne funkcije SPM, spektrometra i kontrolu akvizicije podataka, spektroskopsku i SPM analizu i obradu podataka, uključujući spektralno uklapanje, dekonvoluciju i filtriranje, opcioni moduli uključuju paket za univarijatnu i multivarijatnu analizu (PCA, MCR, HCA, DCA), detekciju čestica i funkcionalnosti pretrage spektra.