Aeris Research Edition je difraktometar namenjen faznoj analizi materijala u laboratorijskim uslovima. Kombinuje jednostavno rukovanje sa performansama koje omogućavaju dobijanje pouzdanih i ponovljivih rezultata.
Sistem omogućava brzo prikupljanje difrakcionih podataka i njihovu obradu pomoću softverskog paketa HighScore, čime se dobijaju informacije o kristalnoj strukturi i faznom sastavu uzorka.
Podržane su različite konfiguracije merenja, uključujući refleksiju, transmisiju i merenja pod malim upadnim uglovima, što omogućava analizu različitih tipova polikristalnih materijala.

Aeris Research Edition omogućava brzo određivanje faznog sastava uzoraka, što je često ključno u istraživačkom radu. Difrakcioni podaci se mogu dalje analizirati primenom Rietveld metode, čime se dobijaju kvantitativne informacije o fazama i kristalnoj strukturi.
Rad na instrumentu je pojednostavljen kroz unapred definisane metode i intuitivan korisnički interfejs. Postupak merenja svodi se na postavljanje uzorka, izbor programa i pregled rezultata, što omogućava rad i korisnicima bez specijalizovanog iskustva.
Sistem omogućava analizu širokog spektra polikristalnih materijala uz izbor odgovarajuće geometrije i konfiguracije merenja. Kvalitet podataka je dovoljan za rutinsku identifikaciju faza, kao i za detaljnije strukturne analize.
Opcioni 2D detektor omogućava vizuelizaciju difrakcionih obrazaca i može se koristiti u edukativne svrhe za prikaz osnovnih principa rendgenske difrakcije prahova.
Instrument podržava različite tipove nosača uzoraka i može biti opremljen menjačem uzoraka i grejnom klupom (BTS-500), što omogućava fleksibilnost u radu i proširenje primena.
Sistem ne zahteva dodatnu infrastrukturu poput spoljnog hlađenja ili komprimovanog vazduha, već samo standardno električno napajanje.

Rukovanje uzorcima
• spoljašnje učitavanje uzoraka
• različiti tipovi nosača uzoraka standardnih dimenzija
• izbor između ručnog uvodjenja uzorka, šaržera sa 6 pozicija ili automatskog šaržera sa 67 pozicija
• kompatibilnost sa automatizovanim sistemima

Rendgenski izvor
• talasna dužina Cu ili Co
• snaga od 300 W do 600 W
• radni naponi 30 kV ili 40 kV
• metalno-keramička rendgenska cev sa bočnim prozorom (berilijumski prozor)
• CRISP tehnologija za zaštitu puta snopa od korozije usled jonizovanog vazduha

Goniometar
• vertikalni goniometar, θ–θ geometrija, uzorak uvek horizontalan
• podržane geometrije: Bragg-Brentano, transmisija, Grazing Incidence
• radijus 145 mm
• opseg −4° < 2θ ≤ 142°
• optičko pozicioniranje DOPS3 sa dugoročnom tačnošću
• maksimalna brzina skeniranja 2.17°/s
• rezolucija < 0.04° 2θ (LaB₆)
• linearnost < 0.04° 2θ
• najmanji korak 0.001°

Nosači i detektori
• rotacioni nosači uzoraka
• opcioni nosači za povišenu temperaturu (BTS-500, BTS-150)
• zamena nosača bez poravnanja putem PreFIX sistema
• specijalni nosači dostupni po zahtevu (in situ, manuelni i drugi)
• izbor detektora: PIXcel1D, PIXcel3D ili 1Der

Opšte karakteristike
• dimenzije 690 × 770 × 786 mm
• zatvoren sistem sa zaštitom od prašine
• nije potrebno spoljašnje hlađenje vodom
• nije potreban komprimovani vazduh
• napajanje 100–240 V, jednofazno
• ugrađen računar
• upravljanje putem ekrana osetljivog na dodir 10.4 inča
• interfejsi LAN, USB, HDMI